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memory-effekt [2008/07/13 12:34] (aktuell) |
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+ | ====== Memory-Effekt ====== | ||
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+ | **Artikel aus http:// | ||
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+ | Der Begriff Gedächtniseffekt oder englisch Memory-Effekt (engl. memory – Erinnerung) bezeichnet den Kapazitätsverlust, | ||
+ | Inhaltsverzeichnis | ||
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+ | ===== Ursache des Memory-Effekts ===== | ||
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+ | Der Memory-Effekt wurde zuerst von der NASA in den 60er Jahren des letzten Jahrhunderts beschrieben. Gesinterte NiCd-Akkus in Satelliten wurden unabhängig vom Grad der Entladung in regelmäßigen Abständen aufgeladen. Mit der Zeit passten sich die Akkus an den Laderhythmus an. Ihre Kapazität reichte nur noch bis zum nächsten Ladezyklus, obwohl sie deutlich größer dimensioniert war. | ||
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+ | Der Memory-Effekt beruht sehr wahrscheinlich auf zwei Prozessen: | ||
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+ | ==== 1. Kristallbildung ==== | ||
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+ | Beim Aufladen eines [[Nickel-Cadmium-Akku|NiCd-Akkus]] bilden sich Cadmium-Mikrokristalle. Wird der Akku nur bis zu einem bestimmten gleichbleibenden Grad entladen, begünstigt dies die Bildung größerer Kristalle aus Mikrokristallen in nicht-entladenen Bereichen. Diese reagieren durch ihre reduzierte Oberfläche im Vergleich zu kleineren Kristallen beim Entladen schlechter, was den Spannungseinbruch bewirkt. | ||
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+ | ==== 2. Umkristallisation ==== | ||
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+ | Ältere Ladegeräte ignorieren den Akkufüllstand. Sie laden über einen festgelegten Zeitraum und überladen einen nur teilentladenen Akku. Dadurch kommt es zu Umkristallisation an der Cd-Elektrode, | ||
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+ | Der Memory-Effekt lässt sich durch mehrmaliges vollständiges Entladen/ | ||
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+ | ===== Untersuchungen zum Memory-Effekt bei modernen Akkus ===== | ||
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+ | Das Zentrum für Sonnenenergie- und [[Wasserstoff]]-Forschung Baden-Württemberg (ZSW) hat handelsübliche NiCd-, NiMH- und Lithium-Ionen-Akkus bezüglich deren Verhalten bei mehrfacher Teilentladung untersucht. Dabei wurde ein Rückgang der Zellenspannung nach mehrfacher Teilentladung (zehn Teilentlade/ | ||
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+ | Die Autoren der Untersuchung kommen zu dem Schluss, dass es den Batterieherstellern durch Materialwahl und/oder veränderte Technologien gelungen ist, den Memory-Effekt weitgehend zu eliminieren und kommen zu den folgenden Empfehlungen: | ||
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+ | * Eine vollständige Entladung vor jeder Ladung ist nicht notwendig. | ||
+ | * Gelegentliches Entladen, etwa nach 50 Teilentladezyklen, | ||
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+ | Dieser Satz "The so-called " | ||
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+ | übersetzt ins Deutsche heißt es etwa: | ||
+ | Der sogenannte Memory Effekt ist ganz einfach ein Anwenderfehler mit Überladen der Zelle. Wenn man eine NiCd Zelle nie überlädt, braucht man sie auch nicht vor der Aufladen zu Entladen. | ||
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+ | ===== Moderne NiCd-Akkus ===== | ||
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+ | Heutige handelsübliche NiCd-Akkus zeigen keinen Memory-Effekt mehr. Sie verlieren ihre Kapazität irreparabel aufgrund von Alterung, zu starker Erhitzung, [[Tiefentladung]] und falscher Polung, aber nicht wegen eines Memory-Effektes. | ||
+ | |||
+ | Von einer Tiefentladung ist genauso abzuraten wie von einer Umpolung beim Ladevorgang. Vollständiges Entladen und Laden oder gar zyklisches Entladen/ | ||
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+ | ===== Fazit: ===== | ||
+ | Der Memoryeffekt ist entweder einfach Mythos, warum auch immer. | ||
+ | Oder er wird verwechselt mit einer kleineren Kapazität durch falschen Laden - vor allem Überladen. Bzw. die auftretenden tiefen Spannungen beim Entladen täuschen eine (noch) tiefere Kapazität vor - vor allem, wenn angschlossene Geräte schon abschalten, weil die Spannung zu niedrig ist. | ||
+ | |||
+ | __**Die Aussagen oben gelten vermutlich für die " | ||
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+ | ====== Siehe auch ====== | ||
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+ | **[[Ladeverfahren]]** | ||
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+ | ===== Links ===== | ||
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+ | * http:// | ||
+ | * [[http:// | ||
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